Спектрофотометры SolidSpec-3700 / SolidSpec-3700 DUV

Спектрофотометры SolidSpec-3700 / SolidSpec-3700 DUV

Специализированный спектрофотометр с вертикальным расположением светового пучка, двухлучевой оптикой и двойным монохроматором специально создан для исследования оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до ближней ИК области.

Специализированный спектрофотометр с вертикальным расположением светового пучка, двухлучевой оптикой и двойным монохроматором специально создан для исследования оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до ближней ИК области.

Спектрофотометр снащен тремя детекторами: ФЭУ и полупроводниковыми детекторами на основе InGaAs и PbS, которые обеспечивают высокую чувствительность на границе видимого диапазона и в ближней ИК области. Низкий  уровень шума делает данный спектрофотометр незаменимым при работе с малопрозрачными образцами. Эта особенность неоценима также и при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

В модели SolidSpec -3700 DUV используется продувка оптического блока и отделения для образцов чистым азотом, с целью удаления кислорода, что позволяет расширить спектральный диапазон в область вакуумного ультрафиолета до 165 нм.

Большое отделение для образцов (900×700×350 мм) позволяет удобно разместить в горизонтальной плоскости образцы с максимальными размерами 700×560×40 мм. Измерение таких крупных образцов стало максимально удобным благодаря вертикальному расположению оптического пучка. Дополнительная автоматическая система прецизионного перемещения образца (X – Y позиционер) позволяет проводить измерения в предварительно заданных точках, возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310×310 мм2.

Конструкция кюветного отделения позволяет устанавливать различные дополнительные приставки:

  • блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб);
  • приставка для измерения зеркального отражения ;
  • блок для очистки азота;
  • приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах: 5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰.

Удобное программное обеспечение UVProbe (имеется русифицированная версия) дает возможность работать в следующих режимах:

  • спектральный – регистрация поглощения, пропускания или отражения, сканирование по длине волны с возможностью последующей обработки спектра (определение положения максимумов и минимумов, арифметические операции, расчет площади, сглаживание, обратные величины, логарифмирование, производная с 1 до 4 порядка);
  • фотометрический (количественный) – измерение на одной или нескольких (до 3) выбранных длинах волн, построение градуировочного графика методом К-фактора, одноточечным или многоточечным;
  • кинетический – регистрация изменения измеряемой величины во времени;
  • генератор отчетов - свободное или по шаблону размещение материала (спектры, таблицы, комментарии и др.).

Спектрофотометр SolidSpec-3700 внесен в ГОСРЕЕСТР РФ и имеет Государственный Метрологический Сертификат РФ.

Применение:

  • Исследование оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широкой спектральной области;
  • Исследования изменений свойств покрытий;
  • Анализ поверхности полупроводников;
  • Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне.
Оптическая схема Двухлучевая
Монохроматор Двойной
Источник излучения 50-Вт галогеновая лампа и дейтериевая лампа.
Автоматическая регулировка положения встроенного источника света
Детекторы  ФЭУ, InGaAs, PbS
Спектральный диапазон SolidSpec 3700: 240 - 2600 нм или 190 - 3300 нм (при использовании DDU) 
SolidSpec 3700 DUV: 175-2600 нм или 165 - 3300 нм (при использовании DDU (DUV)
Спектральная ширина щели 8 ступенчатая: от 0.1 до 8 нм в УФ/видимой области
10 ступенчатая: от 0.2 до 32 нм в ближней ИК области
Точность установки длины волны

±0.2 нм в УФ/видимой области

±0.8 нм в ближней ИК области
Воспроизводимость установки длин волн

±0.08 нм в УФ/видимой области

±0.32 нм в ближней ИК области
Максимальная скорость сканирования

4500 нм/мин (УФ-видимый диапазон)

9000 нм/мин (ближний ИК) для ФЭУ и InGaAs

4000 нм/мин (ближний ИК) для PbS
Уровень рассеянного излучения*

Менее 0.00008% (при 220 нм)

Менее 0.00005% (при 340 нм)

Мнеее 0.0005% (при 1420 нм)

Менее 0.005% (при 2365 нм)
Фотометрический диапазон От -6 до +6 Abs
Фотометрическая точность

±0.002 Abs (при 0.5 Abs)

±0.003 Abs (при 1 Abs)
Фотометрическая воспроизводимость

±0.001 Abs (при 0-0.5 Abs)

±0.002 Abs (при 0.5-1.0 Abs)
Дрейф нулевой линии

SolidSpec-3700: менее 0.0002 Аbs/час (500 нм, через 2 часа после включения прибора)

SolidSpec-3700DUV: Менее 0.0003 Аbs/час (500 нм, через 2 часа после включения прибора)
Стабильность нулевой линии

±0,003 Abs (от 240 до 350 нм),

±0,002 Abs (от 350 до 1600 нм)

±0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм)
Уровень шума

Менее 0.0002 Abs (500 нм, RMS, щель 8 нм)

Мнеее 0.00005 Abs (1500 нм,  RMS, щель 8 нм)

DDU/DDU-DUV:

Менее 0.00005 Abs (500 нм,  RMS, щель 2 нм)

Менее 0.00003 Abs (1500 нм,  RMS, щель 2 нм) 
Размеры отделения для образцов (Ш×Г×В) 900×700×350 мм
Габариты (Ш×Г×В) 1000×800×1200 мм
Вес

170 кг

 (*измерения проводили с использованием приставки для непосредственного детектирования DDU/DDU-DUV)

Похожие товары